V Международная студенческая научная конференция Студенческий научный форум - 2013

Фотоэлектрическим методом [1] на длине волны λ = 632,8 нм в поляризованном свете произведены измерения относительного коэффициента релеевского рассеяния света RVв водных растворах поверхностно активных веществ (ПАВ) с общей формулой вида

M- C9H19C6H4- O- CH2-CH2-OnH

Эти ПАВ представляют собой оксиэтилированые производные М - изононилфенола с различной степенью оксиэтилирования и содержат ~ 98% активного вещества, в основном соответствующего общей формуле.

По данным измерения величины RV в температурном интервале 293-353 К определена критическая концентрация мицеллообразования (ККМ).

ККМ (CK) определяется как точка пересечения двух участков кривых для растворов с концентрациями выше и ниже ККМ. В области концентраций до ККМ величина незначительно увеличивается с ростом концентрации ПАВ. Переход от молекулярного к мицеллярному состоянию ПАВ в растворе сопровождается резким увеличением коэффициента рассеяния света, происходящим в узком интервале концентраций.

Результаты определения ККМ для ПАВ с различной степенью оксиэтилирования при разных температурах методом светорассеяния приведены в таблице 1

Таблица 1 − Результаты определения ККМ для ПАВ с различной степенью оксиэтилирования при разных температурах.

	T,K	104, г/см3
4	293 313 333 353	0,79 0,69 0,69 0,68
6	293 313 333 353	0,44 0,43 0,42 0,41
10	293 313 333	9,0 8,8 8,6
12	293 313 333 353	11,3 10,75 9,5 9,0

Из таблицы видно, что значения ККМ с повышением температуры уменьшаются. При увеличении степени оксиэтиллирования ККМ растворов ПАВ в воде увеличивается.

Литература.

1. Тунин М.С., Персиянова М.А. Молекулярное рассеяние света и его тонкая структура в чистых жидкостях и растворах: Монография /Кубан. гос. технол. ун-т. – Армавир: Издание АМТИ, 2007. – С.87-90.

Код для цитирования: Скопировать